基于失效物理的可靠性方法及应用

报告人:恩云飞 研究员

主持人:周益春 教授

时 间:2018年6月10日19:30-21:30

地 点:菠菜广告投放平台319学术报告厅

学术报告情况简述:

  恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所研究员,党的十九大代表,973项目首席科学家,享受国务院政府特殊津贴专家。长期从事集成电路等高端电子元器件可靠性测试分析、可靠性设计、电子系统故障预测与健康管理等新技术方向研究工作,在电子元器件可靠性物理、试验评价方法等方面取得显著研究成果。荣获多项省部级科技进步奖,在国内外学术期刊及国际会议上发表论文六十余篇,出版专著六本、译著三本,授权国家发明专利二十九项。